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      SP-D20-R14半导体及中子探测器 辐射测量仪

      更新时间:2025-01-01

      访问量:1854

      简要描述:
      SP-D20-R14半导体及中子探测器采用钝化、离子注入与平面光刻等多种先进半导体工艺技术相结合,经过攻克钝化保护、离子注入、低漏电流、大面积、高能量分辨率、环境光下使用等难题后,成功开发出用于α和β粒子的能谱和计数测量的高性能PIPS探测器。
      品牌污视频APP免费产品英文名称PIPS
      测量物质其他 仪器类型 便携
      灵敏度 分辨率0.40%测量范围α、β、γ/X、n核辐射测量
      测量类型 1探测器类型 中子
      仪器种类计量/剂量率仪

                          SP-D20-R14半导体及中子探测器
       
      SP-D20-R14半导体及中子探测器系列一
      一、PIPS半导体探测器
       
      PIPS半导体探测器外观图
       
      AB系列的PIPS探测器测量226Ra-α源能谱
      (型号:SP-D20-R14,灵敏直径20mm,真空避光下测量,50V偏压,jia能量分辨率0.40%)
       
      一、系列产品简介
      采用钝化、离子注入与平面光刻等多种先进半导体工艺技术相结合,经过攻克钝化保护、离子注入、低漏电流、大面积、高能量分辨率、环境光下使用等难题后,成功开发出用于α和β粒子的能谱和计数测量的高性能PIPS探测器。
       
      二、 产品特点
      1) 超薄死层(入射窗),表面钝化处理,稳定性好;离子注入结,坚固可靠;
      2) 漏电流低,噪声低,几何探测效率高,β探测效率高;
      3) 可在真空环境下使用中,AB系列探测器的α能量分辨率高;
      4) CAM系统探测器表面可冲洗、可擦拭。特殊定制可经350℃高温烘烤。
       技术指标:
      灵敏直径20mm,真空避光下测量,50V偏压,jia能量分辨率0.40%

      二、SiC半导体探测器
       
      图1. SiC半导体探测器外形图
       
      图2. SiC探测器测量241Am-α粒子能谱
      (型号:SiC-CB10-20P,灵敏面积100mm2,真空闭光下测量,偏压50V,能量分辨率0.95%)
      一、系列一产品简介
      SiC探测器在抗高温、抗辐射以及耐高击穿电压等方面的性能非常*,SiC探测器可用于α、β、γ/X、n核辐射测量,广泛应用于核能、电子、航天等领域。
      二、 产品特点
      1) α能量分辨率高(≤1%@5.48MeV),极低漏电流(≤10nA/cm2)
      2) 耐高温(烘烤温度≤350℃)耐辐照(快中子≥1E14/cm2)

       

      三、ZZSO中子探测器
       
       图1.  ZZSO中子探测器n-γ响应能谱
      系列一产品简介
      ZZSO中子探测器具有热中子探测效率高、快慢中子响应、伽马甄别能力强、时间响应快、输出幅度大、噪声低等优点,各种规格的ZZSO探测器可用于中子个人剂量计、中子报警仪、中子巡测仪、中子当量剂量仪等核仪器仪表。
       
      产品特点
      1) 热中子探测效率高,快慢中子同时测量,中子伽马同时测量
      2) 灵敏度高,时间响应,中子-伽马串扰率低
      3) 先进稳可靠性,集成度高,功耗低

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